高精度波前测量是实现精密光学系统高性能指标的关键环节。
波前传感器HASO相关产品已广泛应用于激光波前分析、光学元件装配与面形检验、复杂光学系统装调与像差评价、光学系统结构稳定性监测、光学系统聚焦能力或成像质量的预测。
平面光学元件检测系统MESO突破光学元件后表面反射的限制,可对众多平面光学元件进行波前测试。
高精度面形自动检测平台SHARPeR已用于米级超精密镜面的面形检测。
光学质量分析仪SL-Sys已用于液体透镜及小口径正透镜的光学质量控制。
此外,我们还可以提供基于波前传感器的光学检测解决方案。...
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